National Instruments（簡稱NI）近日與蘇州納芯微電子股份有限公司（簡稱納芯微）、上海孤波科技有限公司（簡稱孤波）達(dá)成三方戰(zhàn)略合作，開啟在半導(dǎo)體測(cè)試領(lǐng)域的全新合作模式，引領(lǐng)半導(dǎo)體測(cè)試行業(yè)創(chuàng)新發(fā)展。

NI高級(jí)副總裁兼半導(dǎo)體事業(yè)部總經(jīng)理Ritu Favre、蘇州納芯微電子股份有限公司CTO盛云、上海孤波科技有限公司總經(jīng)理周浩在本周二共同簽署了戰(zhàn)略合作協(xié)議。依托于NI的PXI平臺(tái)以及孤波提供的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試軟件，三方將在隔離、傳感器信號(hào)調(diào)理等多種芯片的自動(dòng)化測(cè)試上展開深入合作。

中國是全球最大的半導(dǎo)體市場(chǎng)，NI非?？春弥袊雽?dǎo)體市場(chǎng)的未來發(fā)展。除了提供從實(shí)驗(yàn)室測(cè)試到量產(chǎn)測(cè)試的解決方案與全面的技術(shù)支持，NI還在中國市場(chǎng)保持持續(xù)性的研發(fā)投入以及不斷擴(kuò)大與本地合作伙伴的合作。NI一直強(qiáng)調(diào)生態(tài)系統(tǒng)的價(jià)值，通過“生態(tài)”的力量幫助客戶減少測(cè)試成本，加速產(chǎn)品上市時(shí)間。三方的戰(zhàn)略合作，正是NI加強(qiáng)生態(tài)系統(tǒng)建設(shè)的一個(gè)重要舉措，也與NI持續(xù)投資中國的戰(zhàn)略深度契合。

納芯微是國內(nèi)領(lǐng)先的信號(hào)鏈芯片及其解決方案提供商，聚焦傳感器與數(shù)字隔離兩大產(chǎn)品方向。孤波是半導(dǎo)體測(cè)試自動(dòng)化工具和服務(wù)提供商，致力于為客戶提供行業(yè)領(lǐng)先的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試軟件和標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試IP。此次合作，針對(duì)納芯微的數(shù)字隔離、信號(hào)調(diào)理以及傳感器等多種芯片，基于NI模塊化、易擴(kuò)展的PXI平臺(tái)和孤波科技的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試軟件，打通了納芯微在芯片的實(shí)驗(yàn)室自動(dòng)化驗(yàn)證和量產(chǎn)測(cè)試環(huán)節(jié)，極大的提高了測(cè)試效率，助力納芯微產(chǎn)品加速走向市場(chǎng)。

“NI可以為納芯微提供從芯片的實(shí)驗(yàn)室自動(dòng)化測(cè)試到量產(chǎn)測(cè)試的統(tǒng)一解決方案， 幫助納芯微降低測(cè)試成本，提高靈活性，最終幫助納芯微將產(chǎn)品快速投入市場(chǎng)?！?NI高級(jí)副總裁兼半導(dǎo)體業(yè)務(wù)總經(jīng)理Ritu Favre同時(shí)指出NI在半導(dǎo)體測(cè)試領(lǐng)域的“獨(dú)特價(jià)值”：“NI靈活的測(cè)試平臺(tái)有助于跨越從實(shí)驗(yàn)室特征分析到量產(chǎn)測(cè)試的鴻溝，且NI強(qiáng)大的生態(tài)系統(tǒng)使我們的客戶可以重用其他軟件提供商的IP，大幅度降低了從測(cè)試系統(tǒng)的搭建到執(zhí)行的時(shí)間和成本。”

 “借助于NI在全球測(cè)試領(lǐng)域最高的專業(yè)度以及對(duì)模擬、射頻測(cè)試的廣泛支持，我們可以將PXI測(cè)試平臺(tái)應(yīng)用在納芯微多款芯片的測(cè)試中，包括隔離ADC、隔離運(yùn)放以及車規(guī)級(jí)的傳感器調(diào)理芯片等?！奔{芯微電子CTO盛云表示：“通過使用PXI測(cè)試平臺(tái)，我們實(shí)現(xiàn)了從實(shí)驗(yàn)室驗(yàn)證測(cè)試到量產(chǎn)ATE測(cè)試的一致性，包括測(cè)試程序、數(shù)據(jù)格式、測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)均得到了統(tǒng)一，減少了測(cè)試程序的開發(fā)時(shí)間，有助于我們?cè)跍y(cè)試IP化上的積累，同時(shí)也使我們?cè)谛酒瑴y(cè)試上更加規(guī)范化，從而提升產(chǎn)品質(zhì)量?！?/p>

上海孤波科技有限公司總經(jīng)理周浩表示： “配合NI平臺(tái)的靈活性和開放性，孤波科技提供的半導(dǎo)體測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)軟件架構(gòu)解決方案和測(cè)試IP，能夠有效運(yùn)用于納芯微的多款芯片，帶給客戶開箱即用的體驗(yàn)，從而大大降低了測(cè)試方案的制訂、開發(fā)、調(diào)試、部署、維護(hù)耗時(shí)，打通了從first silicon verification到characterization，再到ATE量產(chǎn)過程的各個(gè)測(cè)試環(huán)節(jié)，實(shí)現(xiàn)測(cè)試自動(dòng)化，提高測(cè)試覆蓋率，幫助客戶大大降低測(cè)試成本、加速產(chǎn)品上市時(shí)間?！?nbsp;

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